▍传统检测滞后产业 Labless模式加速演进

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　　▍传统检测滞后产业 Labless模式加速演进

　　“过去依靠人工研判，经验复盘的传统检测模式已跟不上产业迭代的需要。如何通过AI赋能重造实验室体系，用大数据缩短故障定位周期，让检测数据反哺前端研发持续提升良率水平，已成为全行业亟待解决的共同问题。”上海现代服务业发展研究基金会理事长、华虹集团原董事长张素心表示。

　　半导体检测中，失效分析是芯片制造与设计工艺的反向校验环节，贯穿半导体材料、设备、设计、制造、封装到终端应用的全产业链与产品全生命周期。随着半导体产业专业化分工深化，检测环节正逐步独立。胜科纳米董事长李晓旻在演讲中表示，类似于Fabless模式，将失效分析等工作交由第三方执行的“Labless”模式正在兴起。

　　据介绍，胜科纳米苏州总部实验室一期设备投入已超10亿元，核心能力已从单一仪器应用升级为产线化的仪器联动体系，实验室形态从传统科研平台向标准化生产产线演进。

　　李晓旻表示，公司通过五代产线演进践行Labless模式，其中，该公司第四代产线围绕国内首台商业化纳米探针搭建，锁定先进制程芯片的失效分析场景。第五代产线针对3D堆叠封装的复杂失效定位需求，于2024年完成研发落地，提前卡位先进封装产业爆发节点。

　　值得注意的是，随着当前行业涌入大量第三方实验室，业内服务价格下行现状愈发明显。李晓旻提出警示，失效分析服务存在显著的 “复利叠加效应”，低价低质服务的风险会指数级放大。

　　李晓旻表示，失效分析的服务质量存在双重复利叠加：一是平面复利，一辆新能源汽车搭载约 3000 颗芯片，若单颗芯片失效率为1PPM，整机失效概率可达0.3%；二是研发流程层面，一款芯片产业化需历经上千个步骤，若单步良率从99.99%降至99.9%，整体项目成功率将相差50%以上。

陶士君

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